>

【オムロン】高速CT型X線自動検査装置 VT-X750

新時代の検査トレンド!
CT型インラインX線検査装置

【OMRON】VT-X750 CT型インラインX線検査装置

高まり続ける品質要求への解

EV、5Gの技術進化により電子基板の小型化、高密度化(両面)、BGA、LGAの搭載が増加し、求められる検査難度は急激に高まっています。そして、工程保証やX線解析機での抜き取り確認から、X線での全数検査が求められるなど、市場の品質要求も高まり続けています。
VT-X750 は高品質のCTインライン検査により、市場要求に対し、長期的に対応し続けることを支援します。

圧倒的な検査品質とスピードの両立により
グローバルでお客様から支持

世界最高速のCT撮像技術により、裏面部品の影響なく、BGAのHIP不良、LGA、挿入部品、プレスフィットなど高難度の部品の安定検査をインラインで実現。
自動車/通信業界において、数々の最先端技術をリードする世界中のお客様から選定をいただいております。

解析機能でROIを最大化

撮像対象のサイズ、種類に応じてフレキシブルに撮像条件を変更できます。
検査機としては業界最高レベルの高解像度撮像に対応しており、1台で検査機としてだけでなく、解析機用途でも活用することで、投資対効果を最大化することができます。

基本仕様

項目内容
型式VT-X750VT-X750-XL
タイプV3-HV3-CV3
検査対象部品BGA/CSP, 挿入部品, SOP/QFP, トランジスタ, R/Cチップ,
底面電極部品, QFN, パワーデバイス, POP, press-fit コネクタ 等
検査項目ボイド, オープン, 不ぬれ, はんだ体積, ずれ, 異物咬みこみ, ブリッジ, はんだフィレット,
スルーホールはんだ充填, はんだくず 等(検査対象により選択可能)
撮像
仕様
撮像方式複数プロジェクション画像を用いた3次元断層撮像方式
撮像分解能6,8,10,15,20,25,30µm/pixel
を検査対象により選択可能
3,6,8,10,15,20,25,30µm/pixel
を検査対象により選択可能
10,15,20,25,30µm/pixel
を検査対象により選択可能
X線源マイクロフォーカス密閉管
X線検出器フラットパネル検出器
対象
基板
基板サイズ50×50~610x515mm 厚さ:0.4~5.0mm (分解能3μm時0.4~3.0mm)100×100~1200x660mm  厚さ:0.4~15.0mm
基板重量4.0㎏以下、10.0kg 以下(オプション)(※1)15kg 以下
搭載部品高さ上面最大:40mm、90mm(オプション)(※1) 下面最大:40mm上面:40mm、下面:50mm
そり・たわみ2.0mm以下 (分解能3μm時1.0mm以下)3.0 mm以下
装置
仕様
外形寸法1,550(W)×1,925(D)×1,645(H)mm
(突起部・シグナルタワー, ディスプレイを除く)
2,180(W)×2,510(D)×1,735(H)mm
(突起部・シグナルタワー, ディスプレイを除く)
装置重量約3,100kg約5,350kg
基板搬送高さ900±20mm
電源電圧単相, AC200~240V, 50/60Hz
定格電力2.4kVA2.58kVA
X線漏洩線量0.5 μSv/h未満
エア0.4~0.6MPa
対応規格CE, SEMI, NFPA, FDACE, FDA

※1:オプションの詳細については営業担当までお問い合わせください

PAGE TOP